ELECTRONICA DIGITAL Y MICROPROGRAMABLE

ELECTRONICA DIGITAL Y MICROPROGRAMABLE

LUQUE SACALUGA,DAVID

17,90 €
IVA incluido
Sin stock. Consulte disponibilidad.
Editorial:
RA-MA, LIBRERIA Y EDITORIAL MIC
Año de edición:
2005
ISBN:
978-84-7897-677-5
Páginas:
280
Encuadernación:
TAPA BLANDA
Materias:
Colección:
CICLO FORMATIVO GRADO MEDIO
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INTRODUCCIÓN CAPÍTULO 1: SISTEMAS Y CÓDIGOS DE NUMERACIÓN 1.1. GENERALIDADES. SISTEMA DECIMAL 1.2. SISTEMA BINARIO 1.3. SISTEMA OCTAL 1.4. SISTEMA HEXADECIMAL 1.5. CÓDIGOS BINARIOS 1.5.1.Código BCD 1.5.2.Código Gray 1.6.PROBLEMAS RESUELTOS 1.7.EJERCICIOS CAPÍTULO 2: ÁLGEBRA DE BOOLE 2.1. DEFINICIÓN Y POSTULADOS 2.1.1. Propiedad Conmutativa 2.1.2. Elementos Neutros 2.1.3. Propiedad Distributiva 2.1.4. Inversión o Complementación 2.2. TEOREMAS DEL ÁLGEBRA DE BOOLE 2.2.1. Teorema 1 2.2.2. Teorema 2 2.2.3. Teorema 3 2.2.4. Teorema 4 2.3. TEOREMAS DE DE MORGAN. 2.3.1. Primer Teorema de De Morgan 2.3.2. Segundo Teorema de De Morgan 2.4. FUNCIONES DE UN ÁLGEBRA DE BOOLE 2.5. PROBLEMAS RESUELTOS EJERCICIOS CAPÍTULO 3: TABLAS DE VERDAD, PUERTAS LÓGICAS Y SIMBOLOGÍA 3.1. TABLA DE VERDAD DE UNA FUNCIÓN LÓGICA 3.2. FORMA CANÓNICA MINTERMS 3.3. TIPOLOGÍA, FUNCIÓN Y CARACTERÍSTICAS DE LAS PUERTAS LÓGICAS. SIMBOLOGÍA 3.3.1. Puerta NOT (NO) 3.3.2. Puerta OR (O) 3.3.3. Puerta AND (Y) 3.3.4. Puerta NOR (NO-O) 3.3.5. Puerta NAND (NO-Y) 3.3.6. Puerta EXOR (O-Exclusiva) 3.4. SIMPLIFICACIÓN DE FUNCIONES LÓGICAS 3.4.1. Método de Luque 3.4.2. Método de Karnaugh 3.5. PROBLEMAS RESUELTOS 3.6. EJERCICIOS CAPÍTULO 4: TECNOLOGÍAS DE FABRICACIÓN DE LOS CIRCUITOS DIGITALES 4.1. CARACTERÍSTICAS DE LOS CIRCUITOS DIGITALES 4.1.1. Cargabilidad de Salida o Fan?Out 4.1.2. Cargabilidad de Entrada o Fan?In 4.1.3. Tensión de Umbral 4.1.4. Margen de ruido 4.1.5. Inmunidad al ruido 4.1.6. Tiempo de propagación 4.1.7. Potencia disipada 4.1.8. Producto potencia disipada?tiempo de propagación 4.2. CIRCUITOS INTEGRADOS RTL 4.3. CIRCUITOS INTEGRADOS DTL 4.4. CIRCUITOS INTEGRADOS TTL 4.4.1. Circuitos Integrados TTL 4.4.2. TTL de baja potencia 4.4.3. TTL de gran velocidad 4.4.4. TTL Schottky 4.5. CIRCUITOS INTEGRADOS ECL 4.6. CIRCUITOS INTEGRADOS HTL 4.7. CIRCUITOS INTEGRADOS I2L 4.8. CIRCUITOS INTEGRADOS CMOS 4.9. PROBLEMAS RESUELTOS 4.10. EJERCICIOS CAPÍTULO 5: BLOQUES FUNCIONALES COMBINACIONALES 5.1. INTRODUCCIÓN 5.2. DECODIFICADORES 5.3. DEMULTIPLEXORES 5.4. CODIFICADORES 5.5. MULTIPLEXORES 5.6. COMPARADORES BINARIOS 5.7. PROBLEMAS RESUELTOS 5.8. EJERCICIOS CAPÍTULO 6: SISTEMAS SECUENCIALES 6.1. INTRODUCCIÓN 6.2. SISTEMAS SECUENCIALES ASÍNCRONOS 6.2.1. Biestables asíncronos activados mediante niveles 6.2.2. Biestables asíncronos accionados por flancos 6.3. SISTEMAS SECUENCIALES SÍNCRONOS 6.3.1. Biestables sincronizados por nive 6.3.2. Biestables sincronizados por flancos 6.4. PROBLEMAS RESUELTOS 6.5. EJERCICIOS CAPÍTULO 7: BLOQUES FUNCIONALES SÍNCRONOS 7.1. INTRODUCCIÓN 7.2. CONTADORES 7.2.1. Contadores asíncronos 7.2.2. Contadores BCD 7.2.3. Contadores síncronos 7.3. DIVISORES DE FRECUENCIA 7.4. REGISTROS DE DESPLAZAMIENTO 7.4.1. Aplicaciones de los Registros de Desplazamiento 7.5. PROBLEMAS RESUELTOS 7.6. EJERCICIOS CAPÍTULO 8: ARITMÉTICA EN LOS CÓDIGOS BINARIOS 8.1. INTRODUCCIÓN 8.2. SUMA ARITMÉTICA BINARIA 8.2.1. Circuito Semisumador 8.2.2. Circuito Sumador Total 8.3. RESTA BINARIA 8.3.1. Representación de los números negativos 8.3.2. Resta mediante el convenio del complemento a dos 8.3.3. Resta mediante el convenio del complemento a uno 8.4. CIRCUITO INTEGRADO 74LS283 8.5. UNIDADES ARITMÉTICAS Y LÓGICAS 8.6. PROBLEMAS RESUELTOS EJERCICIOS CAPÍTULO 9: CIRCUITOS ELECTRÓNICOS DE CONVERSIÓN A/D Y D/A 9.1. SEÑALES ANALÓGICAS Y DIGITALES 9.2. CONVERTIDOR DIGITAL?ANALÓGICO (DAC) 9.3. CONVERTIDOR ANALÓGICO-DIGITAL (ADC) 9.4. CONEXIONES ENTRE ADC Y DAC Y ELEMENTOS DE CONTROL MICROPROGRAMABLES 9.5. PROBLEMAS RESUELTOS 9.6. EJERCICIOS CAPÍTULO 10: OSCILADORES DIGITALES 10.1. TEMPORIZADORES Y MULTIVIBRADORES 10.2. MULTIVIBRADOR MONOESTABLE 10.2.1 Monoestables realizados con puertas lógicas 10.2.2. Monoestables realizados con CI específicos 10.3. MULTIVIBRADORES ASTABLES 10.3.1 Astables realizados con puertas lógicas 10.3.2 Astables realizados con CI específicos 10.4. CIRCUITO INTEGRADO 555 10.5. PROBLEMAS RESUELTOS 10.6. EJERCICIOS CAPÍTULO 11: UNIDADES DE MEMORIA 11.1. INTRODUCCIÓN 11.2. PARÁMETROS Y CARACTERÍSTICAS MÁS IMPORTANTES DE UNA MEMORIA 11.2.1. Capacidad de una memoria 11.2.2. Tiempo de acceso 11.3. LÍNEAS MÁS USUALES EN UNA MEMORIA 11.4. MEMORIA DE ACCESO ALEATORIA (RAM) 11.4. MEMORIA DE SÓLO LECTURA (ROM) 11.5. MEMORIA PROM 11.6. MEMORIA EPROM 11.7. MEMORIA EEPROM 11.8. MEMORIA FLASH 11.9. MEMORIAS DE MASA 11.10. MAPAS DE MEMORIA 11.11. MATRICES LÓGICAS PROGRAMABLES 11.12. AMPLIACIONES DE MEMORIA 11.12.1. Ampliación de memoria manteniendo el número de líneas del bus de datos 11.12.2. Ampliación de memoria aumentando el número de líneas del bus de datos 11.13. PROBLEMAS RESUELTOS 11.14. EJERCICIOS CAPÍTULO 12: MICROPROCESADORES Y MICROCONTROLADORES 12.1. INTRODUCCIÓN 12.2. EL MICROPROCESADOR 12.2.1. Unidad de Control 12.2.2. Registros internos 12.2.3. Buses internos 12.2.4 Vectores 12.2.5 Interrupciones 12.2.6 Microprocesador 6502. Bloques internos 12.3. ARQUITECTURA BÁSICA 12.3.1. Buses 12.3.2. Arquitectura básica del microprocesador 12.3.3. Microprocesador 6502 12.3.4. Mapa de Memoria 12.4. MODOS DE DIRECCIONAMIENTO. INSTRUCCIONES 12.4.1. Modos de direccionamiento 12.5. DISPOSITIVOS PERIFÉRICOS 12.6. MICROCONTROLADOR 8051 12.7. PROBLEMAS RESUELTOS 12.8. EJERCICIOS CAPÍTULO 13: MEDIDAS Y DIAGNÓSTICO DE AVERÍAS 13.1. INTRODUCCIÓN 13.2. LA SONDA LÓGICA 13.3. EL INYECTOR LÓGICO 13.4. EL ANALIZADOR LÓGICO 13.4.1. Pantalla del analizador lógico 13.4.2. Controles del analizador lógico 13.5. OTROS INSTRUMENTOS DE MEDIDAS 13.5.1. El polímetro 13.5.2. El generador de funciones 13.5.3. El osciloscopio 13.6. APARICIÓN DE UNA AVERÍA 13.7. LOCALIZACIÓN DE UNA AVERÍA 13.7.1. Reconocimiento visual del circuito a reparar 13.7.2. Análisis del circuito a reparar 13.8. COMPROBACIÓN DE COMPONENTES 13.8.1. Comprobación de resistencias 13.8.2. Comprobación de condensadores 13.8.3. Comprobación de diodos 13.8.3. Comprobación de transistores 13.9. PRECAUCIONES EN LAS REPARACIONES 13.10. PROBLEMAS RESUELTOS 13.11. EJERCICIOS. APÉNDICE: PRÁCTICAS DE LABORATORIO ÍNDICE ALFABÉTICO

Este libro está dirigido a los estudiantes del Ciclo Formativo de Grado Medio denominado Equipos Electrónicos de Consumo, en concreto, al módulo profesional Electrónica Digital y Microprogramable, aunque también resultará útil para los alumnos, tanto de los Ciclos Formativos de Grado Superior como de Escuelas Universitarias, que quieran ampliar sus conocimientos, ya que trata los temas más importantes y fundamentales de la Electrónica Digital, por lo que se adapta completamente a los contenidos del proyecto educativo creado por el Ministerio de Educación y Ciencia. Los conceptos se explican en cada capítulo, de forma práctica y con muchos ejemplos, son los siguientes: los sistemas y códigos de numeración, el álgebra de Boole, las tablas de verdad, las puertas lógicas y su simbología, las distintas tecnologías de fabricación de los circuitos digitales (TTL, ECL, CMOS, DTL, RTL, HTL), los bloques funcionales combinacionales, los sistemas secuenciales, la aritmética en los códigos binarios, los circuitos electrónicos de conversión A/D y D/A, los osciladores digitales, los sistemas combinacionales universales programables, los microprocesadores y dispositivos periféricos, las medidas en electrónica digital y los diagnósticos de averías. Además, incluye las últimas novedades en este campo como el círculo de verdad, de gran utilidad en los sistemas combinacionales y secuenciales, y el Método de Luque de simplificación de funciones lógicas. En definitiva, esta obra se ha desarrollado con el objetivo de proporcionar un buen material didáctico-práctico para asignaturas relacionadas con la electrónica digital, pero también puede ser utilizado como libro de consulta y de aprendizaje autodidacta por cualquier persona.

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